关于全耀
about q-yao

您的当前位置:全耀首页 > 关于全耀

关于全耀
about q-yao

上海全耀仪器设备有限公司专注于薄膜厚度测量市场,是美国顶尖的光学薄膜厚度测量解决方案的供应商---Semiconsoft公司在中国的总代理。

美国semisonsoft公司的薄膜测厚仪测量厚度可以低至1nm,厚至1mm,埃级分辨率,非接触式无损快速测量。广泛的应用与各种生产或研究中,比如测量薄膜太阳能电池的CIGS层,触摸屏中的ITO层等。


大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。


比如:

半导体(硅,单晶硅,多晶硅)

半导体化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS)

微电子机械(MEMS)

氧化物/氮化物

光刻胶

硬涂层(碳化硅,类金刚石炭)

聚合物涂层(聚对二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)

高分子聚合物


我们非常乐意与您讨论有光薄膜的任何问题,希望我们多年的薄膜厚度测量经验能解决您所遇到的薄膜厚度测量问题。


最具性价比的薄膜测厚仪膜厚测量仪-------敬请联系:400-992-5592

上海全耀仪器设备有限公司专注于膜厚测量仪,在线测厚仪,涂层测厚仪,厚度测量仪市场,是美国顶尖的光学薄膜厚度测量解决方案的供应商,在线测厚仪订购电话:400-992-5592
相关推荐:测厚仪厚度测量仪膜厚测量仪