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反射光谱薄膜测厚仪

反射光谱薄膜测厚仪可以实现产品的厚度检测,实现了高精度检测服务。我们使用超声波测厚仪可以帮助我们更好的实现高精度检测,同时降低对设备的破坏。我们可以利用这款设备实现高效的检测,通过该设备我们会还可以实现非接触检测,帮助设备实现高效的检测服务。

  • MProbe系列薄膜测厚仪
    MProbe系列薄膜测厚仪

    当一束光入射到薄膜表面时,薄膜上表面和下表面的反射光会发生干涉,干涉的发生与薄膜厚度及光学常数等有关,反射光谱薄膜测厚仪就是基于此原理来测量薄膜厚度。 反射光谱干涉法是一种非接触式、无损的、精确且快速...

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  • MProbe Vis薄膜测厚仪
    MProbe Vis薄膜测厚仪

    大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被MProbe Vis测厚仪测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂层(碳化硅,类金...

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  • MProbe UVVisSR薄膜测厚仪
    MProbe UVVisSR薄膜测厚仪

    该机大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂层(碳化硅,类金刚石炭),聚...

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  • MProbe RT薄膜测厚仪
    MProbe RT薄膜测厚仪

    该机大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂层(碳化硅,类金刚石炭),聚...

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  • MProbe NIR薄膜测厚仪
    MProbe NIR薄膜测厚仪

    采用近红外光谱(NIR)的测厚仪可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域,比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的测量。 测量范围: 100 nm -200um 波长范围: 900 nm -2500 nm 适用于...

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