由上海全耀提供的非接触式光学膜厚仪是利用光学干涉原理和测量薄膜的反射光谱原理得出薄膜的实际厚度。膜厚仪主要用于测量尖端设备的生产中不可或缺的极薄膜、多层膜乃至半导体晶圆的硅胶基板厚度，膜厚仪可满足用户各种各样的需求。基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。比如：二氧化硅，氮化硅，多晶硅，非晶硅，硅，光刻胶，聚合物膜层，聚酰亚胺等。全耀公司提供产品还包括：膜厚测量仪，薄膜测试仪，厚度测量仪以及薄膜测厚仪等，如果您对我们公司提供的产品有需求，欢迎您随时拨打我们公司的电话：400-992-5592。

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  MAI显微镜适配器

  MAI显微镜适配器，可与任何一台正置显微联用，将MProble系列测厚仪加到显微镜上，用于微小样品的厚度测量，包含一个200万像素CCD，可对测量区域进行成像。 尺寸 100mm x 40mm x 30mm 重量 0.5kg 显微镜接口 C型接口 ...

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  便携式探头

  测量曲面样品或样品无法移动时，需要用到特殊的探头，这些探头包裹一层柔性橡胶，可以直接放到样品上面，用光纤将其与主机相连。基于不同的应用，有三个型号可选。 MP-FLVi：用于基底较薄且透光的薄膜，需要消除背面...

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